產品介紹
PRODUCT
MAP-300 掃頻波長測試系統
產品介紹:VIAVI MAP-300 系列光學測試解決方案
自 2001 年首次推出的多應用平台 (MAP) 系統起,VIAVI 的光學測試解決方案一直是實驗室和製造應用的核心。 經過多年的演進,我們很自豪地推出全新的第三代 MAP-300 系列,將MAP系統不斷升級,成為VIAVI光學測試解決方案的核心。 該解決方案專為實驗室和製造應用而設計,具有卓越的可擴展性,滿足用戶當前和未來的需求,確保他們的技術發展得以順利進行。
全新的MAP-300系列建立在已驗證的MAP系統優勢之上,同時在滿足客戶最重要需求的領域中引入了創新功能。 向後相容已安裝的自動化基礎,同時增加了多項新特性,包括適用於多用戶環境的基於HTML的圖形使用者介面(GUI),為客戶實現其測試和測量目標提供強大支援。 我們迫不及待地期待看到您使用全新的MAP-300系列時,將會收穫怎樣卓越的成果!
產品介紹
產品介紹:VIAVI MAP-300 系列光學測試解決方案
自 2001 年首次推出的多應用平台(MAP)系統起,VIAVI 的光學測試解決方案一直是實驗室和製造應用的核心。 經過多年的發展,我們引以為傲的第三代MAP-300 系列在已證明的優勢基礎上進行了全新的升級,為用戶提供了無與倫比的可擴展性,以滿足當前和未來的需求,確保 他們的技術發展無虞。
新的 MAP-300 系列在繼承 MAP 系統卓越優勢的同時,透過增加創新功能在用戶最關鍵的領域提供了更多價值。 這一系列系統具備向後相容支持,保障已安裝的自動化基礎,同時引入了多項新特性,包括基於 HTML 的 GUI,特別適用於多用戶環境,助力客戶輕鬆實現其測試和測量目標。 我們期待著看到您如何透過全新的 MAP-300 系列獲得更卓越的成果!
新一代基於MAP-300的掃描波長測試系統(mSWS)系列展現了VIAVI在測量插入損耗(IL)、偏振相關損耗(PDL)、回波損耗(RL)和DWDM設備方向性等方面行業標準解決方案的持續改進。這套系統提供了在新一代DWDM設備的研發(R&D)和生產環境中進行高波長分辨率測試所需的卓越光學性能。
SWS測試平臺已廣泛應用於100多個站點,部署了超過9000個檢測器通道,用於驗證最新光學元件和模組的性能,包括ROADMs、波長開關、可調濾波器和電路組等。該系統由可調激光源、源光學模組(SOM)、控制模組、接收器底座、一個或多個檢測器模組以及應用軟體組成。
mSWS的優點包括提高生產力的同時不損害性能,其測試速度是其他解決方案的兩倍,特別適用於多端口CDC ROADM的全面測試。此外,mSWS能夠減少測試站的佔地面積一半,最大限度降低運營開支,使各測試模組中的功率計數量翻倍。作為行業最具成本效益的解決方案,mSWS有助於通過最多支援八個測試站的快速擴大生產規模,這些測試站可以由一個分佈式可調谐激光發射器提供支援。
mSWS的應用範圍涵蓋光學元件和模組在製造、產品研發環境中的特性描述,包括ROADMs、波長開關、波長阻斷器、電路組、密集波分復用(DWDM)、粗波分復用(CWDM)、可調濾波器、耦合器、分路器、開關、衰減器、光纖光柵(FBGs)、交錯器、雙色濾光器、微電子機械系統(MEMS)和波導元件等。
其主要特點包括可擴縮結構,一個TLS/SOM發射站可共同支援8個測量站,最多可添加7個測量站;± 0.002 nm的絕對波長精度;每個測量站最多可配備256個檢測器通道;高達40 nm/s的高速掃描,用戶可控制;動態連結庫提供靈活易用的軟體和自定義應用(DLLs)。
在安全信息方面,mSWS符合CE要求以及UL3101.1和CAN/CSA-C22.2 No. 1010.1標準。其中,源光學模組(SWS20010)中的激光源為1類,而可調谐激光源(SWS17101和SWS18101)為3B類激光。這兩者均根據IEC標準60825-1(202)分類,並符合21CFR1040.10規定,除非違反Laser Notice No. 50, July 2001中的規定。
### 榮譽與認可
- 2020 Lighwave Innovation Award Winner
- 光學製造測試平台
主要特點
1. 觸控螢幕與圖形使用者介面:MAP-300 配備了板載 3.5 吋觸控屏,可快速存取連接和配置設定。 圖形使用者介面具有直覺的儀表板和可配置的小部件,對應每個填充的模組盒。
2. 多用戶支援:基於 Web 的介面支援多用戶訪問,提供更靈活的操作環境。
3. 模組化設計:MAP-300 系列擁有業界最全面的可熱交換模組,適用於實驗室和生產環境中的光通訊測試和測量。 向後相容 MAP2xx 系列模組盒,同時支援遠端控制。
4. 應用廣泛:適用於一般光纖實驗室使用、製造測試自動化、DWDM/WSS 測試、連接性 IL/RL、偏振加擾和 OSNR。
5. 靈活配置:提供機架式、反向機架式以及桌上型主機配置,分別為八插槽(MAP-380)和三插槽(MAP-330)配置。
6. 介面與連接:具備基於HTML 的圖形使用者介面(MAP-300 GUI),現場可更換的控制器配備了3.5 吋LCD 觸控屏,同時支援USB 3.0 連接埠、15.6 吋外接監視器以及以太 網連接。
7. 選用功能:選用 GPIB、乙太網路連接埠以及附加 USB 和觸發器模組,滿足更廣泛的使用者需求。
8. 遠端編程:採用 SCPI 邏輯接口,透過乙太網路 TCP/IP(LXI)、GPIB 和直接套接字支援遠端編程,提升自動化程度。
9. 合規性:MAP 系列模組盒符合 Laser Notice 50 和 IEC 60825-1 標準,並符合 21 CFR 1040.10 和 1040.11 標準。
透過這一系列創新性的特性和設計,MAP-300 系列確保為使用者提供了卓越的光學測試解決方案,幫助他們在不斷發展的領域中保持領先地位。